RF 분석

RF S-파라미터 분석 작업 공간

Tersa EDA에서 S11, S21, S12, S22, 반사 손실, 삽입 손실, 안정성, 이득을 확인하고 마커를 활용해 RF 측정을 수행하세요.

스미스 차트 열기 →
RF S-파라미터 분석 작업 공간 · iPad
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회로와 함께 확인하는 RF 측정

같은 주파수에서 S11과 S21을 비교하여 반사와 전달을 평가하세요. 마커를 사용해 손실이 회로 요구 사항에 맞는지 확인하세요.

  • S-파라미터 곡선
  • 반사 손실 및 삽입 손실
  • 이득 및 안정성 지표
  • 목표 주파수 마커

스미스 차트로 이어지는 분석

S-파라미터를 확인한 뒤 스미스 차트에서 목표 주파수의 임피던스를 살펴보세요. 부품 값을 조정하기 전후의 궤적을 비교하세요.

  • S11 및 S22 궤적 확인
  • 주파수에 따른 임피던스 변화 확인
  • 동일한 분석 과정에서 마커와 그래프 사용
  • 부품 값을 조정하고 응답 비교

분석 계속하기

  • Touchstone S 파라미터 뷰어 →

    S1P 또는 S2P 파일을 열어 크기, 위상, 스미스 차트의 반사 특성을 확인하세요. 파일은 브라우저 안에서 처리됩니다.

  • 온라인 ECAD 회로도 편집기 →

    Tersa EDA에서 회로도를 만들고 SPICE-compatible 시뮬레이션을 설정하며 RF S-파라미터와 Smith 차트를 확인하고, 태블릿과 데스크톱에서 부품 값을 조정해 응답을 비교할 수 있습니다.

  • iPhone, iPad 및 Android용 SPICE 회로 시뮬레이터 →

    Tersa로 iPhone과 iPad에서 아날로그 및 RF 회로를 만들고 시뮬레이션하세요. DC, AC, 과도 해석을 실행하고 그래프를 보며 부품 값을 조정할 수 있습니다.

  • 스미스 차트 계산기 →

    온라인 스미스 차트로 임피던스, VSWR, 반사손실과 단일 주파수의 이상적 L/C 정합 회로를 계산하세요. 무료, 계정 불필요.

  • RF 및 아날로그 엔지니어링 도구 →

    Tersa EDA 엔지니어링 surface: ECAD 회로도 편집, SPICE-compatible simulation, RF S-parameter analysis, Smith chart inspection, component tuning을 탐색합니다.

RF 설계 계속하기

정합 이론, Tersa 실습, S-파라미터 분석과 Smith 차트 검토를 연결합니다.

자주 묻는 질문

어떤 S-파라미터를 지원하나요?

분석 과정은 S11, S21, S12, S22를 중심으로 구성되어 있습니다.

RF 엔지니어 전용인가요?

RF에 중점을 두지만, 주파수 응답과 임피던스 정합을 빠르게 확인해야 하는 아날로그 회로 설계자에게도 유용합니다.