让阻抗移动可见
Smith 圆图把复杂反射数据变成可视化调谐路径。
- 绘制 S11 和 S22 移动
- 检查频率标记
- 比较 matching 变化
- 连接 Smith 和矩形曲线
Smith 圆图
使用 Tersa EDA 的 Smith 圆图检查阻抗轨迹、S 参数、回波损耗和匹配目标,通过频率标记观察元件调谐前后的变化,并与矩形 RF 曲线进行对照,适合匹配网络、滤波器和端口阻抗验证设计。

Capture、端口、标签、可复用页面和触控友好编辑。
波形、测量、标记、RF 轨迹和调谐反馈。
S 参数、return loss、insertion loss、Smith 圆图、增益和稳定性。
不离开 workspace 即可调谐元件并比较响应变化。
Smith 圆图把复杂反射数据变成可视化调谐路径。
Smith 圆图是测量 workflow 的一部分,不是孤立计算器。
相关工程路线
ECAD workspace
使用 Tersa EDA 创建电路原理图、配置 SPICE-compatible 仿真、检查 RF S 参数和 Smith 圆图,并在浏览器、平板或桌面端直接调谐元件数值与比较响应,适合滤波器、匹配网络和快速 RF 实验。
仿真
在 Tersa EDA 中配置模拟电路的 AC 与瞬态分析,检查波形、测量值和标记,并在同一工程流程中调谐元件参数、重新运行仿真和比较结果,无需切换工具即可完成完整分析。
RF 分析
在 Tersa EDA 中检查 S11、S21、S12、S22、回波损耗、插入损耗、增益、稳定性和频率标记,并将 RF 曲线、Smith 圆图和元件调谐保持在同一分析流程中,适合滤波器和匹配网络的快速验证。
工具目录
浏览 Tersa EDA 的工程工具,包括 ECAD 原理图编辑、SPICE-compatible 仿真、RF S 参数分析、Smith 圆图检查、测量曲线和元件调谐工作流,用于滤波器、匹配网络和模拟电路的快速实验与设计复核。
FAQ
用于检查阻抗轨迹、反射行为和 matching 变化。
是的。页面连接 RF S 参数 workflow。