射频分析

射频 S 参数分析工作区

在 Tersa EDA 中检查 S11、S21、S12、S22、回波损耗、插入损耗、增益、稳定性和频率标记，并将 RF 曲线、Smith 圆图和元件调谐保持在同一分析流程中，适合滤波器和匹配网络的快速验证。

结合电路查看射频测量结果

在相同频率下比较 S11 和 S21，评估反射与传输。使用标记检查损耗是否满足电路要求。

检查 S 参数后，在史密斯圆图上查看目标频率的阻抗。比较调整元件参数前后的阻抗轨迹。

Touchstone S 参数查看器 →
打开 S1P 或 S2P 文件，查看幅度、相位和史密斯圆图上的反射特性。文件仅在浏览器内处理。
在线 ECAD 原理图编辑器 →
使用 Tersa EDA 创建电路原理图、配置 SPICE-compatible 仿真、检查 RF S 参数和 Smith 圆图，并在浏览器、平板或桌面端直接调谐元件数值与比较响应，适合滤波器、匹配网络和快速 RF 实验。
适用于 iPhone、iPad 和 Android 的 SPICE 电路仿真器 →
使用 Tersa 在 iPhone、iPad 和 Android 上绘制、仿真模拟与射频电路。运行直流、交流和瞬态分析，查看曲线并调整元件参数。
史密斯圆图计算器 →
在线史密斯圆图：绘制阻抗，计算驻波比和回波损耗，求解单频理想L/C匹配网络。免费，无需账户。
RF 和模拟工程工具 →
浏览 Tersa EDA 的工程工具，包括 ECAD 原理图编辑、SPICE-compatible 仿真、RF S 参数分析、Smith 圆图检查、测量曲线和元件调谐工作流，用于滤波器、匹配网络和模拟电路的快速实验与设计复核。

连接匹配理论、Tersa 实际流程、S 参数分析与 Smith 圆图检查。

RF 工程指南
RF 阻抗匹配：从负载到验证后的频率响应 →
通过复阻抗、S11、回波损耗、Smith 圆图、无源匹配网络和带宽检查，建立可重复的 RF 阻抗匹配流程。
应用工作流程
在 Tersa EDA 中调谐 RF 匹配网络 →
在 Tersa EDA 中设置 RF 端口、运行 S 参数扫描、用 Smith 圆图检查 S11、调谐 L/C 并验证完整带宽。
RF 工程资料库
RF 设计与电路仿真指南 →
提供阻抗匹配、S 参数、Smith 圆图、频率响应和可重复 RF 调谐流程的实用资料。

分析流程以 S11、S21、S12 和 S22 为核心。

工具侧重射频分析，也适合需要快速检查频率响应和阻抗匹配的模拟电路设计人员。