Análisis de RF

Entorno de análisis de parámetros S de RF

Examina S11, S21, S12, S22, pérdidas de retorno e inserción, estabilidad, ganancia y mediciones de RF con marcadores en Tersa EDA.

Abrir carta de Smith →
Entorno de análisis de parámetros S de RF · iPad
Entorno de análisis de parámetros S de RF · iPad

Mediciones de RF junto al circuito

Compara S11 y S21 a las mismas frecuencias para evaluar la reflexión y la transmisión. Usa marcadores para comprobar las pérdidas frente a los requisitos del circuito.

  • Trazas de parámetros S
  • Pérdidas de retorno e inserción
  • Indicadores de ganancia y estabilidad
  • Marcadores en las frecuencias objetivo

Del análisis a la carta de Smith

Después de revisar los parámetros S, examina la impedancia en la carta de Smith a la frecuencia objetivo. Compara la trayectoria antes y después de ajustar los valores de los componentes.

  • Examina las trayectorias de S11 y S22
  • Observa cómo cambia la impedancia con la frecuencia
  • Mantén los marcadores y las gráficas en el mismo proceso de análisis
  • Ajusta los valores y compara las respuestas

Continuar el análisis

Continúa el diseño RF

Conecta la teoría, el flujo práctico en Tersa, los parámetros S y la carta de Smith.

FAQ

¿Qué parámetros S admite?

El proceso de análisis está orientado a S11, S21, S12 y S22.

¿Es solo para ingenieros de RF?

Se centra en RF, pero también es útil para quienes diseñan circuitos analógicos y necesitan comprobar rápidamente la respuesta en frecuencia y la adaptación de impedancias.